|
|
Charakterizace elektronové trysky
Horák, Michal ; Lencová, Bohumila (oponent) ; Zlámal, Jakub (vedoucí práce)
Práce se zabývá problematikou elektronových zdrojů a elektronově optických systémů. Teoretická část se věnuje odvození vlastností elektrostatických a magnetických čoček, jejich vadám a programům používaných k simulacím v částicové optice. Druhá část se zabývá výpočtem vlastností autoemisní elektronové trysky.
|
|
|
Design elektronového mikroskopu
Havlíček, Petr ; Kobosil, Karel (oponent) ; Zvonek, Miroslav (vedoucí práce)
Diplomová práce řeší design skenovacího elektronového mikroskopu. Navržený koncept představuje inovativní řešení a přístup k problematice a respektuje veškeré technické, ergonomické a estetické požadavky na něj kladené. Samostatné vlastní práci - vývoji designu od počátečních skic po finální řešení, předchází rešeršní studie rozebírající technické, designérské a vývojové aspekty problému. Závěr práce se zabývá rozborem navrženého designérského řešení, jeho charakterem a přínosem v širších souvislostech.
|
|
|
Design of the Transmission Electron Microscope projection system for the Single Particle Analysis
Bačo, Ondřej ; Tiemeijer, Peter (oponent) ; Sháněl, Ondřej (vedoucí práce)
This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method.
|
|
|
Design of the Transmission Electron Microscope projection system for the Single Particle Analysis
Bačo, Ondřej ; Tiemeijer, Peter (oponent) ; Sháněl, Ondřej (vedoucí práce)
This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method.
|
|
| |
|
|
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje
Radlička, Tomáš
Výpočet a optimalizace elektronově optických vlastností trysky, která se používá v zdroji Roentgenovéo foto-emisního spektroskopu. Jednalo se o výpočet termoemise limitované prostorovým nábojem. Pro výpočet byly použity metody vyvinuté na ÚPT.
|
|
|
SMV-2016-21: DA modul pro EOD
Radlička, Tomáš
V rámci smluvního výzkumu byla vyvinuta softwarová knihovna, která umožňuje užití metody diferenciálních algeber v programu EOD. Byla také vypočteny testovací příklady pro testování funkčnosti softwaru.
|
|
| |
|
|
Design elektronového mikroskopu
Havlíček, Petr ; Kobosil, Karel (oponent) ; Zvonek, Miroslav (vedoucí práce)
Diplomová práce řeší design skenovacího elektronového mikroskopu. Navržený koncept představuje inovativní řešení a přístup k problematice a respektuje veškeré technické, ergonomické a estetické požadavky na něj kladené. Samostatné vlastní práci - vývoji designu od počátečních skic po finální řešení, předchází rešeršní studie rozebírající technické, designérské a vývojové aspekty problému. Závěr práce se zabývá rozborem navrženého designérského řešení, jeho charakterem a přínosem v širších souvislostech.
|
|
|
Charakterizace elektronové trysky
Horák, Michal ; Lencová, Bohumila (oponent) ; Zlámal, Jakub (vedoucí práce)
Práce se zabývá problematikou elektronových zdrojů a elektronově optických systémů. Teoretická část se věnuje odvození vlastností elektrostatických a magnetických čoček, jejich vadám a programům používaných k simulacím v částicové optice. Druhá část se zabývá výpočtem vlastností autoemisní elektronové trysky.
|
host ::
RSS.